质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图 质谱仪是一种测定带电粒子质...
来源:学生作业帮 编辑:神马作文网作业帮 分类:物理作业 时间:2024/11/11 13:14:28
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图 质谱仪是一种测定带电粒子质...
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示,离子源S产生的各种不同正离子束(速度可看作为零),经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场,到达记录它的照相底片P上,设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x.第一问求该离子的比荷q比m多大?第二问若离子源产生的是带电荷量为q质量为m1和m2的同位素离子(m1大于m2)他们分别到达照相底片上p1,p2位置(图中未画出)求p1p2间的距离的他x
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示,离子源S产生的各种不同正离子束(速度可看作为零),经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场,到达记录它的照相底片P上,设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x.第一问求该离子的比荷q比m多大?第二问若离子源产生的是带电荷量为q质量为m1和m2的同位素离子(m1大于m2)他们分别到达照相底片上p1,p2位置(图中未画出)求p1p2间的距离的他x
没有图,我按照我自己理解,是不是粒子进入磁场后走了一个半圆然后打在底片上,如果这样,则第一问实际上就是利用2R=X,然后利用半径公式以及加速电场等条件代入,就可以求出比荷.第二问类似,比荷不同,半径不同.
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具.它的构造原理如图所示,离子源S产生带电量为q的某种正离子,离子射出时
质谱仪是一种测定带电粒子质量或分析同位素的重要设备,它的构造原理如图所示.离子源S产生的各种不同正离子束(速度可视为零)
(2009•遵义模拟)质谱仪是测量带电粒子的质量和分析同位素的重要工具.如图所示为质谱仪的原理示意图.现利用这种质谱议对
质谱仪分析中,同位素丰度指的是什么
1922年英国物理学家阿斯顿因质谱仪的发明、同位素和质谱的研究荣获了诺贝尔化学奖.若一束粒子由左端射入质谱仪后的运动轨迹
请证明我是错的场是一种带电的微粒:它能够影响带电的粒子是最有说服力的证明,这种粒子只是太小了,以致于我们无法观察到,但它
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带电粒子的分离
质谱仪在测定有机物结构时的优缺点
汤姆孙提出的测定带电粒子的比荷(qm)的实验原理如图所示.带电粒子经过电压为U的加速电场加速后,垂直于磁场方向进入宽为L
(电磁场与电磁波考试题)质谱仪是用来分辨同位素的设备,
离子是带电的粒子,但对外显电性吗?