XRD半高宽说明什么

首先:2THETA值与晶面间距d有关(BRAGG定律),所以,你可以根据2THETA的位置,得到晶系和晶胞参数.即也可以定性.再次:峰的高度,可以用来定量或解析晶体结构,如果制样时产生了择优取向,还可

鉴别物相首先从峰位入手,如果峰位能对上,初步判定为该物质；其次,还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致,如果都一样则可肯定为该物质.峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系,如果是馒头峰

XRD可以吗?答：可以的!的确,应力分内应力和外应力,都可以用XRD定量测试.

我见过的非晶态的物质,二氧化硅微粉就是这样的衍射峰,馒头峰估计是大量微小晶粒衍射的结果.

通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期（L=λ/2θ）,粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布.对于

XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法：选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面

可能出现了多层结构,比如说物相分离,或者应变情况不同.还有可能是出现了次级衍射卫星峰

.汗一个俺也不知道惭愧zhangzhiguang(站内联系TA)XRD叫X射线衍射,可以用来鉴别物性,通常测量其衍射峰,再配合卡片,对物质定性.对已知物质可以测量其晶格变化.XEDS叫X射线能量散射能

峰位：如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽：如果是

峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高.峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸.峰高如果是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致.峰高如果是A峰相对B峰高很多,“两峰的高度比A

方面:结晶度的问题.定性:峰强越强,结晶越好!定量:可用软件(比如JADE),计算结晶度.

表征的是晶体的晶粒大小,晶粒越小,宽化越严重,反之晶粒越大,衍射峰越尖锐,有个谢乐公式可以根据半峰宽和d值计算晶粒大小,但这公式只能用于计算粒度小于100nm的晶粒.再问：如果半峰宽是0.204，那么

拉曼光谱仪是用激光激光激发出的,是散射光,对被测物质浓度有一定要求,但现阶段正在慢慢普及化；XRD是由X射线激发出的电子衍射光,更适合测量浓度较低的物质,如液体、粉末、薄膜等,目前不是很普及；两者实现

拉曼光谱仪是用激光激光激发出的,是散射光,对被测物质浓度有一定要求,但现阶段正在慢慢普及化；XRD是由X射线激发出的电子衍射光,更适合测量浓度较低的物质,如液体、粉末、薄膜等,目前不是很普及；两者实现

你这个不是纯的锐钛型二氧化钛,是否纳米级这个没法看出来,但是我可以肯定你的不是纯的锐钛型二氧化钛,里头掺杂了金红石型二氧化钛.比如锐钛型二氧化钛一般在25度左右有一个明显的特征峰,在37-40度之间有

X-射线衍射XRD（WideAngleX-rayDiffraction）主要是对照标准谱图分析纳米粒子的组成,分析粒径,结晶度等,一般要求纳米粒子的尺寸在几个纳米到100纳米以内.

衍射峰位置,多少决定物质的外形,(立方或六方等等),还有晶胞尺寸.(共两个因素)一般来讲,单质元素,小体积.衍射峰就少.正常的.(你可以比对大晶胞和小晶胞的衍射线数量).影响原因:测试角度小了.解决方

研磨颗粒越细越好,然后确定扫描角度

小角XRD衍射缩写是SAXD,小角XRD散射的缩写是SAXS,二者的原理还是有很大的区别的.衍射对应的是周期性结构引起的相干,而散射对应的是电子密度的波动.具体可以看看这本书：也可以看看附件的那篇文献

一般而言:分析方面:xrd即X-raydiffraction(测试角度广角5-80度)用于鉴定物相,解析结构,织构等用途;x-rayscattering(测试角度为小角1-5度)用于测试纳米介孔材料等