SEM和电子探针使用特征的问题

来源：学生作业帮编辑：神马作文网作业帮分类：综合作业时间：2024/11/17 16:07:42

SEM和电子探针使用特征的问题
想了解下在材料研究与测试中SEM和电子探针的使用特征.能用比较通俗的个人语言说明的最好,

SEM说俗了就是用高速的电子打击标本捕获打回来的电子然后电脑分析得到的图象就是物体表面的照片和普通黑白照片没区别只不过是很小很小的物体在纳米级别上的迷你照片~
电子探针就不一样了全名为电子探针X射线显微分析仪又名微区X射线谱分析仪听着听深奥实际上就是把高速的电子打在物体上这点和SEM一样但是它捕获的不是电子它要的是物体受到电子攻击产生的X线``（如果你大学物理学的好没挂科的话你应该记得一个叫做特征X线它要的就是这个玩意）因为这个X线含有标本的化学成分信息``所以它长用来分析物体里有什么这样我们就知道标本里面有多少氢多少氧等等`
总结就是：都把高速的电子打到了标本上 SEM捕获了反弹回来的电子从而知道了物体表面长什么样子电子探针捕获了物体激发出来的X光从而知道了物体里面有什么成分

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