xrd谱图与JCPDS粉末衍射卡相比强度差

X射线解析晶体结构的仪器有两种：粉末衍射仪和单晶衍射仪（小角度散射仪除外,不能解析晶体的结构）做材料的一般都用粉末衍射仪,而专门搞晶体的采用到单晶衍射仪.两者的功能区别很大的.普通的3kV粉末衍射仪大

这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!

XRD要做的是纯的晶体,是为了测定晶体结构的,而且对相(phase)数也是有要求.你做的土壤是混合物,相数太多了,这样是没有意义的.简单就数据分析来看,8.9,17.7,26.7三个数据可能是对应于同

xhtangxh(站内联系TA)把单晶研磨到微米级再用粉末XRD衍射仪扫谱,出来的结果才有意义,其衍射峰包括所有衍射晶面,不仅仅是平行于样品平面存在的晶面.如果不研磨细,一方面可能有的晶面衍射信号可能

关于粉末衍射,研磨的确破坏了块状材料的宏观结构,但是这里的粉末仍然都是一个一个的小晶体,仍然具有长程有序性,这些粉末都是随机分布的,因此,差不多各个方向的衍射峰都可以出现,由于每个晶向对激光的衍射程度

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你百度个教程看看方法二：人工分析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者

通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期（L=λ/2θ）,粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布.对于

国家有色金属及电子材料分析测试中心,可以进行各种矿石、钢铁、有色、稀有金属材料、半导体材料、先进复合材料及功能材料的物相定性、定量分析、点阵常数（晶格常数）计算.

好多人都要啊,给你发了~

我有pentaerythritol,pdf卡片号48-0161再问：但是里面有Na2SO4-Na2O-SiO2-Al2O3-CH3OH这些是指什么呢她们的卡片号一样？你能帮我分析下我的谱图么我的Q是8

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此

XRD衍射峰一般用角度值表示,该值和微观上晶体的晶面间距是对应的,一个晶面间距对应一个特定的角度.当测试多晶,陶瓷时,因为存在晶格异常,偏大或偏小,会使衍射峰变宽.材料结晶越好,峰越窄,反之越宽.

有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.

2θ指的是你的横坐标,也就是封顶位置的横坐标读数.FWHM是指半高宽,也就是你的一个衍射峰一半位置的宽度,若没有软件,比较麻烦的方法是用尺子量,选择一个衍射峰,找到它高度一半的位置,然后量取它的宽度,

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

应该是晶体结构再问：能具体点吗？3q再答：囧，我之前说错了。和别人讨论了一下，我们认为这是样品的来源。因为卡片库可由不同研究者向其提供发现的新物质的XRD谱图，审核之后汇总。用syn等注明用来建立该卡

file——》patern->选择要加的数据后点击add即可,然后在右边点向上的箭头就好了

XRD衍射图一般是进行定性分析的.求各相比例是定量分析的内容.用XRD衍射图很难进行定量分析,分析出来的数据也不准确.至于求法,主要是看峰高（峰高反应强度）,不同相的峰高比就差不多是其含量的比例.

小角XRD衍射缩写是SAXD,小角XRD散射的缩写是SAXS,二者的原理还是有很大的区别的.衍射对应的是周期性结构引起的相干,而散射对应的是电子密度的波动.具体可以看看这本书：也可以看看附件的那篇文献