金属薄膜电阻率的测量测同一电流下的正反电压为什么-搜答案-神马作文网

常用金属导体在20℃时的电阻率(1)银1.65×10-8(2)铜1.75×10-8(3)铝2.83×10-8(4)钨5.48×10-8(5)铁9.78×10-8(6)铂2.22×10-7(7)锰铜4.

应该先判断电流表允许通过的最大电流避免损坏仪器在不损坏仪器的前提下量程尽可能选小再用闭合电路欧姆定律相关知识分别考虑各给仪器的示数最值选择量程

0°c时：1.47×10^-8Ωm18°c时：1.58×10^-8Ωm

在常用材料导体中可以这么说银是最低的,20℃时的电阻率银是0.016,铜0.0172,金是0.022但影响电阻的因素有很多,温度、长度、横截面等等科学界没有最小一说,只有更小,随着科学的进步更新的产品

最大的区别就是合金的分子结构彻底打乱,然后重新排列,其重新排列后的分子间隙更小,这样电流不容易通过,可以想向一下,如果河道里填一些石头,水流量肯定会减小,变得缓慢,同样的道理,合金分子间隙变小,电流不

多次计算去掉相差太多求平均值

不是电导仪,电导仪只能测电导率,电导和电阻是倒数关系,如果需要测电阻的,电导仪是测不出来的,显示为0,只能用在线电阻率仪（注意,电阻只能在线测,离线就不准了）,价格相当高.

我做过那个实验,并且有相关的ppt,要的话联系vis9@eyou.com

单位时间内横截面上流过的电子越多电流就越大相同材料的薄膜厚度越大很截面积越大单位时间内通过的电流越大(这是表面现象）电导率就能看出来比薄的大电阻率小很直观的想法就是类比水流假设单位面积在单位时间流过的

正常情况下是不行的,因为金属的电阻率较小,金属丝的电阻值也很小,这就是说要测一个很小的电阻值.而分压法适合于待测电阻值远大于滑动变阻器最大阻值的情况.这样必须使滑动变阻器的阻值比金属丝的阻值还要小很多

物质温度t/℃电阻率电阻温度系数aR/℃-1银201.5860.0038(20℃)铜201.6780.00393(20℃)金202.400.00324(20℃)铝202.65480.00429(20℃

多次测量.如果电阻丝的电阻小,那把电流表外接.

先用伏安法测出金属的电阻R再用螺旋测微器测出金属丝的直径D然后用刻度尺测出金属丝长度L根据公式R=（电阻率*L）/SS为横截面积,用直径D可以算出来所以电阻率=SR/L

对电阻的微观解释现在还不成熟,量子论有个非普适的理论,对于解释超导的个别现象很有效,不同材料,电阻的产生机制不同,适用不同理论,就像阻力的产生可以使摩擦力,可以使地球引力一样,虽然都是力,但是产生的机

电流过大导线会发热w=i2rt.电阻值又和温度有关,温度上升电阻值增大.因此不能用大电流

第一中可以理解为线性的,但半导体就是非线性材料~!

一般的自来水电导率是：300-700us/cm（电导率跟电阻率是倒数关系,你可自己换算）.超纯水的电阻率是可以从18兆降到1,或者更低的.无非就是没有离子的超纯水,增加离子了,水的电阻率也随之下降了.

因为电压很小容易受到温差电动势等等的干扰其中一大部分反向后会抵消

测量半导体电阻率的方法很多,按是否与样品接触可以分为两类,即接触式和非接触式.常用的电阻率测量方法有直接法、二探针法、三探针法、四探针法、多探针阵列、扩展电阻法、霍尔测量、涡流法、微波法、电容耦合C-

原理过程：先测出薄膜的表面电阻率（方块电阻）；再根据薄膜的厚度等因素,计算出薄膜的电阻率；再计算出薄膜的电导率.（是否为“质子电导率”,要有补充条件来说明）再问：方块电阻就是表面电阻率吗？可以采用这种